1. 新產品介紹：蔚華科在2023年推出全新產品JadeSiC-NK非破壞性缺陷檢測系統，這項技術創新取代了昂貴的破壞性KOH（氫氧化鉀）蝕刻檢測方式。該系統可提高生產效率並改善製程，對碳化矽（SiC）基板製造廠商具有重要意義。
2. 市場痛點解決：JadeSiC-NK系統切中市場痛點，取代了高成本的KOH蝕刻方式，引起國內外多家矽晶圓廠的高度興趣。潛在客戶包括環球晶、中美晶、穩懋、漢民、盛新等。
3. 應用範疇：該系統可應用於5G毫米波24～28GHz和37GHz高頻段，尤其適用於電動汽車使用的耐高溫高壓SiC功率半導體元件，滿足全球SiC晶片需求的快速增長。
4. 接單與生產進展：目前，蔚華科已經與多家國內外客戶接觸，部分客戶進入最後階段，預計在第一季底前取得訂單。預計上半年即可開始出貨，未來新接單將需四至六個月的生產時間。
5. 市場需求與趨勢：全球SiC晶片需求因電動車的快速發展而急劇增加。新產品的應用有助於提高SiC基板製造的效率，降低製程成本，符合市場迫切需求。
6. 技術優勢：JadeSiC-NK系統使用非線性光學技術，能夠對整片基板表面到特定深度進行全面掃描，提供晶體缺陷密度及分布情況，有效掌握基板品質，未來生產元件品質與效能更加穩定。
7. 營運展望：蔚華科力拚2024年全年營運轉虧為盈，並看好新產品在2024年的出貨表現。
